२५ जेष्ठ २०७७ आइतबार
राजनीति

परीक्षाफलमा देखिएको त्रुटिमाथि छानबिन हुने

काठमाडाैं- माध्यमिक शिक्षा परीक्षा (एसइइ) को परीक्षाफलमा देखिएको प्राविधिक त्रुटिका विषयमा छानबिन हुने भएको छ। 

शनिबार सार्वजनिक कक्षा १० को परीक्षाफलमा प्राविधिक गडबडी भएको पाइएपछि केही विद्यार्थीको नतिजामा आइतबार ग्रेड वृद्धि भएको थियो। 

राष्ट्रिय परीक्षा बोर्ड मातहतको परीक्षा नियन्त्रण कार्यालयका नियन्त्रक अम्बिकाप्रसाद रेग्मीले प्राविधिक त्रुटि सुधार गरी विद्यार्थीलाई वास्तविक ग्रेडसिट उपलब्ध गराइएको र छानबिनका लागि शिक्षा, विज्ञान तथा प्रविधि मन्त्रालयमा पठाइएको जानकारी दिए। रासस

प्रकाशित: ११ असार २०७५ १८:०९ सोमबार

खुशी 0 %
दुखी 0 %
अचम्मित 0 %
हास्यास्पद 0 %
क्रोधित 0 %
अर्को समाचार
Download Nagarik App